Method for tracking and checking the operation of an analyser and of a production unit connected to it

Procédé de suivi et de contrÔle du fonctionnement d'un analyseur et d'une unité de fabrication à laquelle il est raccordé

Verfahren zum Verfolgen und zur Kontrolle des Betriebs eines Analysegeräts und einer daran angeschlossenen Herstellungseinheit

Abstract

The method of following and controlling the operation of a slave analyser linked to a fabrication unit uses an operation of multivariate calibration of the master analyser and periodic standardisation operations of signals delivered by the slave analyser fed by products of standardisation. Calibration transfer operations between the master and slave analysers are undertaken including the calculation of parameters associated with a calibration transfer algorithm and the choice of a control indicator. The evolution of the indicator is reviewed at the start of each periodic standardisation operation and used to check the correct working of the slave analyser and fabrication unit.
La présente invention concerne un procédé de suivi et de contrôle du fonctionnement d'un analyseur et du fonctionnement d'une unité de fabrication à laquelle il est raccordé. Ce procédé est caractérisé en ce qu'il comprend une opération de calibration multivariée d'un analyseur maître, des opérations périodiques de standardisation des signaux délivrés par un analyseur esclave alimenté par des produits de standardisation, des opérations de transfert de calibration entre les analyseurs maître et esclave, des opérations de surveillance de l'évolution dans le temps de la valeur d'un indicateur de suivi et de contrôle en appliquant une méthode de suivi et de contrôle.

Claims

Description

Topics

Download Full PDF Version (Non-Commercial Use)

Patent Citations (1)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    US-4866644-ASeptember 12, 1989Shenk John S, Westerhaus Mark OOptical instrument calibration system

NO-Patent Citations (0)

    Title

Cited By (6)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    CN-100458409-CFebruary 04, 2009三西斯医学股份有限公司A method of characterizing spectrometer instruments and providing calibration models
    EP-1442699-A1August 04, 2004Sensys Medical, Inc.A method of characterizing spectrometer instruments and providing calibration models to compensate for instrument variation
    US-6269276-B1July 31, 2001Roche Diagnostics CorporationMulti-rule quality control method and apparatus
    US-6864978-B1March 08, 2005Sensys Medical, Inc.Method of characterizing spectrometer instruments and providing calibration models to compensate for instrument variation
    WO-0225233-A2March 28, 2002Sensys Medical, Inc.Method of characterizing spectrometers and providing calibration models
    WO-0225233-A3June 27, 2002Instrumentation Metrics IncMethod of characterizing spectrometers and providing calibration models